當探頭與帶覆層磁性基材組成閉合磁路，覆層厚度與磁路磁阻成一關係，通過檢測磁阻的改變達到測量此覆層厚度的目的。
N型探頭即應用渦流效應原理：
當探頭與帶覆層非磁性金屬基材緊密接觸時，探頭使基材產生渦流，渦流對探頭的回饋作用與覆層厚度成一關係，通過檢測此回饋量達到測量覆層厚度的目的。
特點：
1.大點陣液晶屏、標準化功能表操作、可開啟或關閉自動關機功能。
2.兩種測量模式：單詞測量和連續測量。
3.兩種組模式：直接組和萬用群組，一個直接組和四個萬用群組。
4.可零校準和多點校準，各組有單組的零校準和多點校準，組與組之間互不影響。
5.使用者可隨時查看當前測量資料，即時顯示當前組的統計值，平均值、最小值、最大值和標準方差。